LED/LDデバイスの配光測定セミナー

私たちの身の回りにはさまざまなLED製品が存在します。LEDパッケージやモジュールなどの部品レベルから照明器具や自動車のヘッドランプなどの完成品に至るまで、これらが製品化される過程において配光測定の評価が求められます。また、最近ではLEDのみならず近赤外レーザー光源の配光パターンの評価ニーズも高まっています。本セミナーは、配光測定(ニアフィールド、ファーフィールド)の違いや目的を明確にして、運用の手掛かりとして頂ける内容となっております。

開催日:2022年6月10日(金)

開催概要

LED評価のプロフェッショナル集団であるドイツInstrument Systems社、そしてディスプレイ検査装置で豊富な実績を誇るアメリカRadiant Vision Systems社の最新の測定システムを取り上げて、具体的な事例や測定データを交えながら配光測定の手法を解説致します。また今回は新たに、顔認識その他の3Dセンシングアプリケーションで使用される近赤外VCSEL光源などのDOE照射パターンの角度特性評価についてもご紹介致します。

プログラム

  1. 配光測定の概要 ~ニアフィールドとファーフィールドの違い~
  2. ゴニオメーターによるファーフィールド配光測定事例について
  3. イメージング輝度計によるニアフィールド配光測定手法について
  4. 近赤外コノスコープレンズによるDOEドットパターン分析について

こんな方におすすめ

  • LED、LD、その他近赤外光源の配光測定、評価を検討されている方、およびその開発/製造に関わる方

参加概要

日時 2022年6月10日(金)11:00~11:45
開催方法 ウェビナー(Microsoft Teams)
Webブラウザからインターネット経由で参加する形式で、PCへの専用アプリケーションのインストールは必要ありません。
お申し込みの際にご登録いただいたメールアドレス宛に開催前に招待URLを記載したメールをお送りし、そのリンクをクリックしてご参加いただく流れとなります。
定員 100名
受講料 無料
主催 コニカミノルタジャパン株式会社
お問い合わせ先 コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部 販売推進部
TEL:03-6324-1011

※募集期間中でも定員になり次第、締め切らせていただきます。
※受講するご本人様がお申し込みください。また、1つのお申し込みにつき1名様のお申し込みとさせて頂きます。
※セミナー内容、講師、時間などは、一部変更になる場合がございます。
※同業者のお申し込みはお断りしております。

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