生産終了製品
※生産・販売終了しています
製品情報
製品概要
優れた精度・優れた再現性
360~740nmフルレンジの波長範囲を10nmピッチで測定しています。ダブルビーム方式・デュアルチャネルセンサアレイ採用により、高精度・高再現性を達成しています。
メンテナンスフリーを追求した高信頼性設計
技術的イノベーションにより、SCI/SCE切換、フィルタ移動などメカ可動部を極限までなくしています。ISO9001を認証している品質管理体制で、設計・製造校正をしていますので高信頼性・長寿命です。
3種類の測定径を搭載
サンプルに応じて最適の測定径を選ぶことができます。
主な用途
- 各種分野の研究・開発部門・品質管理部門
- 大学・試験所・検査機関
主な特長
SCIとSCEの同時測定が可能
特殊取得済みのヌーメリカルグロスコントロール方式でSCIとSCEを同時に測定し、わずか4秒で連続測定が可能です。従来のSCI/SCE切替式のように頻繁な機械式切替が不要ですので、作業効率が向上します。また切替時、測定エリアのズレが生じることもないので安定した測定データが得られます。
蛍光色の測定が可能
UV光を含む光源とUV光をカットした光源が順次発光し、UV光を含む光源下での試料データとUV光を含まない光源下(400nm、または420nmUVカットフィルタ)での試料データを得ることができます。
任意光源下のデータも簡単に得ることができます(UV調整)。任意光源下における分光反射率データが既知の標準蛍光試料を測定するだけで、UV校正は完了します。UV校正後はその光源下における試料データを得ることができます。UVカットフィルタの移動によるトライアンドエラーのUV調整作業は不要ですので、画期的な時間短縮を実現します。
蛍光染料が入ったYシャツ
蛍光染料が入った紙
さまざまな試料測定が可能
CM-3610dとのデータ互換性があります
照明受光光学系は従来機のCM-3610dと同じで、データ互換性がありますので、CM-3610dをお使いの方にも過去のデータを生かして、そのままお使いいただくことができます。
パソコン制御の高精度・高信頼性の据置タイプ
Windows対応ソフトで使用できます。