Instrument Systems社製品
アプリケーション例
LED計測用温調システム
概要
LEDの光学特性は温度によって変化することが判っています。
そこで温調システムを併用することで、被測定LEDパッケージ温度を一定に保ち測定の信頼性を高めることができます。
また、パッケージ温度を変化させることで温度特性も計測可能です。
システム構成
積分球システム（2π測定）の場合
適用できる主な測定は以下になります。（合否判定/選別含む）
- ※
- 用途によって構成が変わります。
- 全光束
- 光度
- CIE平均化光度
- 分光放射照度
- 配光特性
- 主波長/刺激純度
- ピーク波長
- 重心波長
- 色度
- 演色性
測定例
パッケージ温度を15~85℃と変更し分光放射強度の温度特性を測定した例です。
温度の上昇に伴ってピーク波長シフトおよび出力低下がわかります。
ペルチェ温調システム LED-850 TEC 詳細
別途ご要望に応じたカスタム品（温度域拡大等）もご相談を承ります。
- ※
- 温度範囲: + 5°C～+ 85°C 分解能：0.1℃ （冷却・加熱いずれも可能）
使用機材（積分球システム 2π測定の場合）
- ポリクロ分光器 CAS140D （紫外域から赤外域までいろいろなモデルがあります）
- 積分球 ISP500
- ケースレーインスツルメンツ社2400ソースメーター
- データ処理用PCおよび専用ソフトSpecWin Pro
- 導入時構成品での校正
- LED-850 TEC ペルチエ温調システム / 温調システムコントローラー
