赤外・紫外応用技術展 2017(OPIE’17 内)

当社のみどころ

LED単体・有機ELパネル・照明器具などの、紫外光エネルギー値・近赤外の分光放射量を高精度に測定可能なInstrument Systems社の分光器を出展いたします。

主な用途

UV:UV殺菌ランプ、UV硬化用照射器、LED光源のUV量評価
NIR:視線追跡技術、赤外光観察(IRI)、衝突防止センサー技術の評価
その他、各種照明光源の演色性が測れる照度計も出展いたします。

展示会概要

会期 2017年4月19日(水)~ 21日(金) 10:00~17:00
会場 パシフィコ横浜
主催 日本フォトニクス協議会
入場料 2,000円
展示会ホームページ http://www.opie.jp/uvir/ New Window
ブースNo 展示ホールA  No.N-1
主要展示物

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