赤外・紫外応用技術展 2017（OPIE’17 内）
当社のみどころ
LED単体・有機ELパネル・照明器具などの、紫外光エネルギー値・近赤外の分光放射量を高精度に測定可能なInstrument Systems社の分光器を出展いたします。
主な用途
UV：UV殺菌ランプ、UV硬化用照射器、LED光源のUV量評価
NIR：視線追跡技術、赤外光観察(IRI)、衝突防止ｾﾝｻｰ技術の評価
その他、各種照明光源の演色性が測れる照度計も出展いたします。
展示会概要
| 会期 | 2017年4月19日（水）～ 21日（金） 10：00～17：00 |
|---|---|
| 会場 | パシフィコ横浜 |
| 主催 | 日本フォトニクス協議会 |
| 入場料 | 2,000円 |
| 展示会ホームページ |
http://www.opie.jp/uvir/
|
| ブースNo | 展示ホールA No.N-1 |
| 主要展示物 |
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