展示会情報

赤外・紫外・可視光応用技術展

展示会情報

会期 2012年4月25日(水)~27日(金)
10:00~17:00
会場 パシフィコ横浜
主催 日本光学会(応用物理学会)
NPO法人 日本フォトニクス協議会
入場料 2,000円
コニカミノルタブースNo ホールC、D  No.M-14
主要展示物 分光透過/反射測定システム(紫外~近赤外)
微小面分光測定システム(可視域)
分光放射輝度・照度測定システム(紫外~近赤外)
B&WTek社 高感度近赤外分光器(近赤外域)
分光測色計・分光放射輝度計(可視域)

当社のみどころ

顕微鏡と分光器を組み合わせた「微小面分光測定システム」や、紫外から近赤外までをカバーした「分光放射輝度・照度測定システム」など、測定用途に合わせたパッケージ商品を各種展示致します。

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